
15975429334

當(dāng)前位置:首頁 > 技術(shù)文章3-26
錫須是從元器件焊接點(diǎn)錫鍍層表面自發(fā)生長的細(xì)長錫單晶,可能導(dǎo)致線路短路或信號干擾,嚴(yán)重影響電子產(chǎn)品長期可靠性。隨著無鉛化進(jìn)程推進(jìn),純錫及高錫合金鍍層廣泛應(yīng)用,錫須風(fēng)險成為電子制造業(yè)必須正視的潛在隱患。電子元器件、PCBA部件、汽車電子、通信設(shè)...
3-25
在質(zhì)量至上的商業(yè)浪潮中,產(chǎn)品質(zhì)量管控是企業(yè)筑牢口碑、站穩(wěn)市場的核心防線。從精密電子元件到日常食品藥品,從工業(yè)設(shè)備到基礎(chǔ)建筑材料,任何產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性,都與生產(chǎn)、存儲、運(yùn)輸環(huán)節(jié)的溫濕度環(huán)境深度綁定。溫濕度環(huán)境測試,看似是質(zhì)量管控中的細(xì)微環(huán)節(jié),...
3-25
廣電計量針對硅光芯片提供全流程的測試服務(wù),覆蓋Si、SiN、LiNbO3等材料體系,支持硅光芯片、MPD、Heater、MZI、光波導(dǎo)、激光器等核心單元的工藝驗(yàn)證與失效分析。在參數(shù)測試方面,可完成耦合損耗、調(diào)制效率、傳輸損耗、帶寬、電阻、暗...
3-25
廣電計量提供覆蓋Si、SiN、LiNbO?等材料體系的硅光芯片全流程測試服務(wù),功能單元包含硅光芯片、MPD、Heater、MZI、光波導(dǎo)及激光器等。測試項(xiàng)目涵蓋耦合損耗、調(diào)制效率、傳輸損耗、帶寬、電阻、暗電流、響應(yīng)度、眼圖、模斑等參數(shù)測試,...
3-25
從芯片到系統(tǒng):ESD抗擾度測試與整改實(shí)例,展現(xiàn)了廣電計量解決復(fù)雜ESD問題的全棧式服務(wù)能力。針對機(jī)載電子設(shè)備等專業(yè)應(yīng)用,我們依據(jù)RTCADO-160標(biāo)準(zhǔn),可執(zhí)行從±2kV至±15kV嚴(yán)酷等級的接觸放電與空氣放電測...
3-25
在生產(chǎn)制造過程中,材料表面的微量污染物往往是導(dǎo)致涂層附著力下降、接觸不良或外觀不良的根源。材料表面污染分析:如何定位污染物來源?廣電計量提供了一套系統(tǒng)的“溯源”方法。我們優(yōu)選多種精密分析儀器,首先利用掃描電鏡及能譜(SEM/EDS)觀察污染...
掃一掃,關(guān)注微信
廣電計量官方商城電話
微信掃一掃